车规级芯片功能安全工程师考试试卷及答案.docVIP

车规级芯片功能安全工程师考试试卷及答案

一、填空题（共10题，每题1分）

1.车规级芯片功能安全核心标准是______。

2.ASIL等级中最高风险等级是______。

3.功能安全中“安全目标”的英文缩写是______。

4.芯片检测运算错误的常见技术是______。

5.ISO26262中硬件架构度量的两个指标是SPFM和______。

6.功能安全生命周期包括概念阶段、产品开发阶段和______阶段。

7.AEC-Q100是车规______的可靠性标准。

8.汽车领域安全完整性等级对应______。

9.芯片检测控制流异常的机制是______。

10.FMEA的全称是______。

二、单项选择题（共10题，每题2分）

1.以下不属于ASIL分解条件的是？

A.独立开发B.独立测试C.相同ASIL等级D.独立供应商

2.ISO26262中“安全要求”层级不包括？

A.系统级B.硬件级C.软件级D.芯片级

3.属于“随机硬件失效”的是？

A.寄存器位翻转B.设计缺陷C.规格错误D.代码漏洞

4.车规芯片功能安全认证核心机构不包括？

A.TüVB.ULC.SGSD.IEEE

5.ASIL等级确定不考虑的因素是？

A.严重度SB.暴露度EC.可控性CD.成本

6.安全机制的核心作用是？

A.避免失效发生B.检测/控制失效影响C.降低成本D.提高性能

7.针对车规芯片可靠性的标准是？