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Twin-CGH技术：解锁球面与非球面绝对检验的新维度

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代光学系统中，光学元件作为基础组成部分，其质量与性能直接决定了整个光学系统的成像质量、分辨率以及光效等关键指标。例如，在高端相机镜头中，光学元件的微小偏差可能导致图像模糊、色差明显；在天文望远镜里，光学元件的精度不足则会影响对遥远天体的观测精度。因此，对光学元件进行高精度的绝对检测，是保障光学系统性能的关键环节。

球面和非球面光学元件在各类光学系统中广泛应用。球面光学元件，凭借其结构相对简单、制造工艺相对成熟的特点，在传统光学系统中占据重要地位，如常见的放大镜、近视眼镜片等。而非球面光学元件，由于其面形由多项高次方程决定，各点半径不同，能够更有效地校正像差，减少光学系统中元件的数量，实现系统的小型化与高性能化，在现代先进光学系统，如高端摄影镜头、航空航天光学成像设备中发挥着不可或缺的作用。

然而，传统的绝对检测方法在面对球面和非球面光学元件时存在诸多局限性。以传统干涉检测方法为例，其参考面的精度难以达到理想状态，导致测量结果中混入参考面误差；接触式测量方法虽能获取表面轮廓信息，但可能会对光学元件表面造成损伤，影响其光学性能。

Twin-CGH技术作为一种新兴的检测手段，为球面和非球面的绝对检测带来了新的契机。该技术利用计算全息术（CGH），通过巧妙设计和分析干涉图案，能够精确测量被