CN120107185A 基于视觉识别的vcsel芯片外观缺陷检测系统及方法 (华芯半导体科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-10 发布于重庆
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CN120107185A 基于视觉识别的vcsel芯片外观缺陷检测系统及方法 (华芯半导体科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120107185A

(43)申请公布日2025.06.06

(21)申请号202510164199.XG06V10/82(2022.01)

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