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CN119201146B 一种晶圆级芯片批量烧录和测试方法 （重庆御芯微信息技术有限公司）.docxVIP

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  • 2026-04-14 发布于山西
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CN119201146B 一种晶圆级芯片批量烧录和测试方法 （重庆御芯微信息技术有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN119201146B

    (45)授权公告日2025.06.10

    (21)申请号202411263512.7

    (22)申请日2024.09.10

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119201146A

    (43)申请公布日2024.12.27

    (73)专利权人重庆御芯微信息技术有限公司

    地址400000重庆市沙坪坝区智荟大道18

    号1-24室

    (72)发明人邓江涛段文亮覃海洋金伍华周勇黎光洁

    (74)专利代理机构重庆徽赫天连知识产权代理事务所(特殊普通合伙

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