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基于AIC-YOLOv11n模型的砀山梨多表面缺陷检测方法.docx

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    毕业设计（论文）

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    毕业设计（论文）报告

    题目：

    基于AIC-YOLOv11n模型的砀山梨多表面缺陷检测方法

    学号：

    姓名：

    学院：

    专业：

    指导教师：

    起止日期：

    基于AIC-YOLOv11n模型的砀山梨多表面缺陷检测方法

    摘要：砀山梨是我国重要的水果之一，其品质的好坏直接影响着消费者的购买意愿和市场的经济效益。然而，在砀山梨的生产过程中，由于多种因素的影响，如病虫害、机械损伤等，导致梨果表面出现多种缺陷。传统的缺陷检测方法主要依赖于人工经验，不仅效率低下，而且准确率不高。近年来，随着深度学习技术的快速发展，基于计算机视觉的缺

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