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基于ATE的SRAM型FPGA测试技术：原理、方法与应用探究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着现代电子技术的迅猛发展，对高性能、高功能和低功耗芯片的需求与日俱增。现场可编程门阵列（FPGA）作为一种可编程逻辑器件，凭借其灵活性、可靠性和可重构性，在众多领域得到了广泛应用，成为电路设计中不可或缺的关键工具。从通信领域的5G基站射频芯片，到数据中心的AI推断和数据处理加速，再到工业控制中的实时监测与精准调控，FPGA都发挥着至关重要的作用。

FPGA的内部实现多采用静态随机存储器（SRAM）作为配置存储器，配置数据存储于FPGA芯片的寄存器单元。然而，FPGA内部逻辑复杂，