2025年人教版高二化学高分子电镜分析专题试卷及解析.docxVIP

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2025年人教版高二化学高分子电镜分析专题试卷及解析.docx

2025年人教版高二化学高分子电镜分析专题试卷及解析

2025年人教版高二化学高分子电镜分析专题试卷及解析

第一部分:单项选择题(共10题,每题2分)

1、在扫描电子显微镜(SEM)中,为了获得具有良好衬度的聚合物材料表面形貌图像,通常采用哪种信号作为主要成像信号?

A、透射电子

B、二次电子

C、特征X射线

D、背散射电子

【答案】B

【解析】正确答案是B。二次电子是被入射电子激发出的、能量较低的核外电子,它对样品表面的微观形貌和拓扑结构非常敏感,是SEM成像中分辨率最高、衬度最好的信号,尤其适用于观察聚合物等非导电材料的表面。A选项透射电子是透射电镜(TEM)的主要成像信号;C选项特征X射线用于能谱(EDS/EDX)分析,进行元素成分分析;D选项背散射电子能量较高,主要反映样品的原子序数衬度,形貌衬度不如二次电子。知识点:SEM成像原理。易错点:混淆不同电镜信号的应用,误将用于成分分析的X射线或用于原子序数衬度的背散射电子当作形貌分析的主要信号。

2、对于聚乙烯(PE)和聚苯乙烯(PS)这两种常见的聚合物,在进行透射电子显微镜(TEM)观察前,通常采用哪种方法制备超薄切片?

A、冷冻超薄切片术

B、离子减薄

C、机械抛光

D、化学腐蚀

【答案】A

【解析】正确答案是A。聚乙烯和聚苯乙烯是典型的软质高分子材料,在室温

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