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TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展.docx

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    毕业设计（论文）

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    毕业设计（论文）报告

    题目：

    TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展

    学号：

    姓名：

    学院：

    专业：

    指导教师：

    起止日期：

    TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展

    摘要：TFT-LCD表面Mura缺陷是液晶显示器生产过程中常见的一种质量缺陷，严重影响显示器的显示效果。随着TFT-LCD产业的快速发展，对Mura缺陷的检测技术要求越来越高。本文综述了TFT-LCD表面Mura缺陷的自动光学检测（AOI）技术的研究进展，包括Mura缺陷的原理与特征、传统AOI检测方法、基于机器视觉的AO

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