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CN119400229A 测试方法 （长鑫科技集团股份有限公司）.docxVIP

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  • 2026-04-16 发布于山西
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CN119400229A 测试方法 （长鑫科技集团股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119400229A

    (43)申请公布日2025.02.07

    (21)申请号202310915969.0

    (22)申请日2023.07.24

    (71)申请人长鑫科技集团股份有限公司

    地址230601安徽省合肥市经济技术开发

    区空港工业园兴业大道388号

    (72)发明人李彬彬代宇

    (51)Int.Cl.

    G11C29/56(2006.01)

    权利要求书2页说明书10页附图5页

    (54)发明名称测试方法

    (57)摘要

    CN119400229A本公开提供了一种测试方法，涉及半导体技术领域，

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