GB/Z 107-2025半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估.pdf

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  •   |  2025-12-03 颁布

GB/Z 107-2025半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估.pdf

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

/—/:

GBZ1072025IECTR631332017

半导体器件

基于扫描的半导体器件退化水平评估

SemiconductordevicesScanbasedaeinlevel

gg

estimationforsemiconductordevices

(:,)

IECTR631332017IDT

2025-12-03发布

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