弱耦合多芯单模光纤用截断法、后向散射法测量衰减、相移法、干涉法测试偏振模色散、截止波长、模场直径的特定要求.pdfVIP

附录A

（规范性附录）

用截断法测量衰减的特定要求

A.1装置

A.1.1通用的试验装置

衰减测定可在一个或多个波长上进行，也可在某一波长范围内测量谱衰减特性。适宜的

试验装置框图如图A.1和图A.2所示。

图A.1规定波长上测量衰减的试验装置

图A.2多个波长上测量衰减或谱衰减的试验装置

A.1.1.1通用的光注入装置

图A.3是适用于所有光纤的光注入装置，在A.1.2、A.1.3和A.1.4中分别给出了对于每

一种光纤的光注入条件进一步的要求。

A.1.1.2光源

应采用稳定辐射的光源，如卤钨灯、激光器或发光二极管(LED)。依据测量类型选择合

适的光源。在测量过程中，光源位置、强度和波长应保持稳定。光源波长范围应满足光纤测

量的需要，其谱线半幅全宽(FWHM)应足够窄，例如小于10nm,以保证对光纤谱衰减特性

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有足够的分辨率。光纤输入端应与注人光束对准，或者