表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测量柔顺材料弹性模量的程序.pdfVIP

表面化学分析扫描探针显微术用原子力显微镜和两点JKR法测量

柔顺材料弹性模量的程序

1范围

本文件描述了使用原子力显微镜（AFM）测定柔顺材料弹性模量的程序。通过测量可以得到柔顺

材料表面上的力-距离曲线，并使用基于JKR模型理论的两点法进行分析。本文件适用于弹性模量范围

为100kPa至1GPa的柔顺材料。空间分辨则取决于AFM探针和表面之间的接触半径，通常约为10-20nm。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

ISO18115-2表面化学分析词汇第2部分：扫描探针显微术术语（Surfacechemicalanalysis—

Vocabulary—Part2:Termsusedinscanning-probemicroscopy）

ISO11775表面化学分析扫描探针显微术悬臂梁法向弹性常数的测定（Surfacechemicalanalysis

—Scanning-probemicroscopy—Determinationofcantilevernormals