CN119416731A 一种版图中多晶硅栅的检测方法及系统 (博越微电子(江苏)有限公司).docxVIP

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  • 2026-04-20 发布于山西
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CN119416731A 一种版图中多晶硅栅的检测方法及系统 (博越微电子(江苏)有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119416731A

(43)申请公布日2025.02.11

(21)申请号202510027159.0

(22)申请日2025.01.08

(71)申请人博越微电子(江苏)有限公司

地址214000江苏省无锡市新吴区太湖国

际科技园软件园四期天鹅座C座709室

(72)发明人陈苗苗刘德启

(74)专利代理机构广州博联知识产权代理有限

公司44663

专利代理师梁志标

(51)Int.Cl.

G06F30/392(2020.01)

G06F30/398(2020.01)

G06V30

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