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安装调试方案

测试工序与方法介绍

1）硬件测试整机部分：

EMC电磁兼容性与静电放电抗扰度测试（ESD）

测试仪器：ESD-20，厂家：3Ctest

测试标准：空气8KV，接触4KV

浪涌抗扰度测试（SURGE）

测试仪器：SKS-0506，厂家：上海三基

测试标准：根据产品而定，一般共模4KV，差模2KV

安规（只针对输入电压大于184V交流设备）

耐压测试：

测试仪器：GPI-745A，厂家：固伟

测试标准：电流应小于10mA

绝缘阻抗

测试仪器：GPI-745A，厂家：固伟

测试标准：两端至少有20M欧阻抗

接触电流

测试仪器：7611，厂家：华仪

测试标准：电流小于0.25mA

接地阻抗

测试仪器：GPI-745A，厂家：固伟

测试标准：不大于0.1欧姆

2）单板部分：信号完整性

测试仪器：TDS5104B，厂家：泰克

信号质量产生的原因与危害：

（1）过冲

类型

正过冲

负过冲

图例

危害

1、闩锁损伤器件（VCC/VDD），对器件冲击造成器件损坏；

2、形成干扰源，对其它器件造成串扰。

闩锁损伤器件（VEE/GND），对器件冲击造成器件损坏；

管脚上的负电压可能使器件PN衬底（寄生二极管）前向偏置，流过的大电流大于1安时，熔断键丝产生开路。

产生原因

其它相邻信号串扰；

器件驱动能力太强；

没有匹配或者