CN120109035A 改善通孔测试准确度的方法 (上海华力集成电路制造有限公司).pdfVIP

  • 3
  • 0
  • 约6.52千字
  • 约 6页
  • 2026-04-22 发布于重庆
  • 举报

CN120109035A 改善通孔测试准确度的方法 (上海华力集成电路制造有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120109035A

(43)申请公布日2025.06.06

(21)申请号202510214951.7

(22)申请日2025.02.25

(71)申请人上海华力集成电路制造有限公司

地址201203上海市浦东新区康桥东路298

号1幢1060室

(72)发明人吕永亮

(74)专利代理机构上海浦一知识产权代理有限

公司31211

专利代理师郭四华

(51)Int.Cl.

H01L21/66(2006.01)

权利要求书1页说明书3页附图1页

(54)发明名称

改善通孔测试准确度的方法

(57)摘要

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档