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- 2026-04-23 发布于江苏
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第五章微电子芯片的失效分析
江素华
内容提要
1.芯片结构及元器件工作原理
2.芯片失效机理
3.芯片失效分析技术
集成电路的发展
集成电路的发展
5
双极型晶体管原理
电子材料与器件工艺-绪论7
双极型晶体管工艺
放大条件:
1oWbLnb2o发射结正偏3o集电结反偏
双极型晶体管工作原理
MOS场效应晶体管原理(NMOS)
CMOS工艺流程
器件的不断小型化
2.芯片的失效机理
2.1氧化层击穿
2.2热载流子效应
2.3薄膜的相互扩散
2.4静电放电及辐射
2.5
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