GB-T 42968.3-2025-集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法标准研究报告.docxVIP

《GB/T42968.3-2025集成电路电磁抗扰度测量第3部分：大电流注入（BCI）法》标准化发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReporton*GB/T42968.3-2025Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—Part3:Bulkcurrentinjection(BCI)method*

摘要：

随着集成电路（IC）在汽车电子、工业控制、航空航天及消费电子等领域的广泛应用，其电磁兼容性（EMC），特别是电磁抗扰度性能，已成为保障电子系统可靠性与安全性的关键指标。大电流注入（BCI）法作为一种高效、非侵入式的电磁抗扰度测试方法，被广泛应用于评估集成电路在传导射频干扰下的性能。本报告围绕新近发布的推荐性国家标准GB/T42968.3-2025展开，系统阐述了该标准的制定背景、核心内容与技术要点。报告首先介绍了标准的基础信息及其在GB/T42968系列标准中的定位，随后详细分析了BCI法的测试原理、设备要求、校准程序及测试等级设置等关键技术内容。报告还重点介绍了主要起草单位在标准制定过程中的贡献，并探讨了该标准对提升我国集成电路产业电磁兼容设计、测试与认证水平的重要意义。结论部分总结了该标准的发布对行业发展的