GB-T 42968.9-2025-集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法标准研究报告.docxVIP

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《GB/T42968.9-2025集成电路电磁抗扰度测量第9部分：辐射抗扰度测量表面扫描法》发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportonGB/T42968.9-2025Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—Part9:Measurementofradiatedimmunity—Surfacescanmethod

摘要：

随着集成电路（IC）向更高集成度、更小特征尺寸和更高工作频率发展，其电磁兼容性（EMC），尤其是电磁抗扰度（EMS）问题日益凸显。传统的辐射抗扰度测试方法难以精确定位芯片内部或封装表面的电磁敏感点，制约了芯片级电磁防护设计的优化。本报告围绕新发布的国家标准GB/T42968.9-2025展开，该标准是“集成电路电磁抗扰度测量”系列标准的重要组成部分。报告详细阐述了该标准的制定背景、核心内容与技术特点，重点介绍了其引入的“表面扫描法”这一创新测试技术。该方法通过使用近场探头在集成电路封装表面进行扫描，结合特定的激励与监测手段，能够实现对芯片局部电磁敏感性的高分辨率、可视化评估。本标准的发布与实施，填补了我国在集成电路芯片级辐射抗扰度精细化测量领域的标准空白，为集成电路设计、制造、封装和测试企业提供了科学、统一的技