CN119986341A 测试指令生成方法、芯片测试方法及装置 (昆仑芯(北京)科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-04-25 发布于重庆
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CN119986341A 测试指令生成方法、芯片测试方法及装置 (昆仑芯(北京)科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119986341A

(43)申请公布日2025.05.13

(21)申请号202510221349.6

(22)申请日2025.02.26

(71)申请人昆仑芯(北京)科技有限公司

地址100101北京市海淀区上地十街10号1

幢4层CW区

(72)发明人钱乐谢宇霆钱俊杰李治贤

杨凯郭文平

(74)专利代理机构中科专利商标代理有限责任

公司11021

专利代理师杨静

(51)Int.Cl.

G01R31/3183(2006.01)

权利要求书3页说明书13页附图10页

(54)发明名称

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