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CN119445046A 半导体晶圆缺陷检测光源配置方法、装置及设备 （深圳市金鼎胜光电股份有限公司）.docxVIP

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  • 2026-04-26 发布于山西
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CN119445046A 半导体晶圆缺陷检测光源配置方法、装置及设备 （深圳市金鼎胜光电股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119445046A

    (43)申请公布日2025.02.14

    (21)申请号202510047708.0

    (22)申请日2025.01.13

    (71)申请人深圳市金鼎胜光电股份有限公司

    地址518000广东省深圳市宝安区石岩街

    道浪心社区洲石路49号凯欣达科技园厂房一二层

    (72)发明人王洁陈新民唐建明张桂英周正恩

    (74)专利代理机构北京华艺德嘉知识产权代理

    有限公司16326

    专利代理师吉兴祥

    (51)Int.Cl.

    G06V10/14(2022.01)

    G06N3/0

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