VI内存测试算法及其复杂度分析.pdfVIP

MemoryTesting

•Introduction

•MemoryFaultModel

•MemoryTestAlgorithms

Classicalalgorithms

Marchalgorithms

•MemoryFaultSimulation

•MemoryTestGeneration

•MemoryBIST

1VLSITest16.2©NationalUniversity

内存测试算法

•测试算法是有限的测试元素序列

•一个测试元件包含多个

1.内存操作读或写

2.数据模式(又称.数据背景)零或一

3.地址序列递增或递减

•测试（时间）复杂度的测试算法用N表示

N=内存大小=内存单元数量复杂度越高意

味着更长的测试时间

内存测试算法与ATPG算法不同

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