原创力文档摘要
扫描电子显微镜（ScanningElectronMicroscopy,SEM）以其超高分辨率与大
景深成像特性，已成为材料科学、生物医学等领域微观结构表征的核心工具。然
而，SEM图像质量存在显著的主观依赖性，尤其在长时间拍摄中，操作者极易因
视觉疲劳导致质量评估偏差，从而致使采集图像可能出现对比度失衡、信噪比下
降等退化现象，直接影响微观形貌分析的准确性。因此，构建客观的无参考图像
质量评价（No-ReferenceImageQualityAssessment,NR-I
摘要
扫描电子显微镜（ScanningElectronMicroscopy,SEM）以其超高分辨率与大
景深成像特性，已成为材料科学、生物医学等领域微观结构表征的核心工具。然
而，SEM图像质量存在显著的主观依赖性，尤其在长时间拍摄中，操作者极易因
视觉疲劳导致质量评估偏差，从而致使采集图像可能出现对比度失衡、信噪比下
降等退化现象，直接影响微观形貌分析的准确性。因此，构建客观的无参考图像
质量评价（No-ReferenceImageQualityAssessment,NR-I
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