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IC检验指导书模板.docVIP

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  • 2026-05-05 发布于湖南
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IC检验指导书模板.doc

    材料检验规范手册

    IC检验指导书

    文件编号

    版本号

    修改号

    生效日期

    WI-QE-004

    V1.0

    0

    2025.12.22

    适用范围：

    适用于我司各种封装功能的IC来料的检验。

    缺陷判定的详细标准：

    一、外观、尺寸缺陷判定的详细标准：

    1．污渍

    ⑴表面可轻易擦净的污渍。（轻缺陷）

    ⑵表面不可轻易擦净的污渍。（重缺陷）

    2．划痕、破碎。（重缺陷）

    3．引脚变形、氧化。（重缺陷）

    4．丝印错误、模糊不清。（轻缺陷）

    5．封装、尺寸不符。（重缺陷）

    6．引脚的可焊性差。（轻缺陷）

    二、性能缺陷判定的详细标准：

    Sensor类

    ⑴横条、白板、黑屏、黑点、花屏、无设备。

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