CN119493723A 测试用例获取方法、装置、介质及电子设备 （炬芯科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119493723A

(43)申请公布日2025.02.21

(21)申请号202311018372.2

(22)申请日2023.08.11

(71)申请人炬芯科技股份有限公司

地址519085广东省珠海市高新区唐家湾

镇科技四路1号1#厂房一层C区

(72)发明人李国斌

(74)专利代理机构北京英创嘉友知识产权代理

有限公司11447

专利代理师王波

(51)Int.Cl.

G06F11/3668(2025.01)

权利要求书2页说明书11页附图3页

(54)发明名称

测试用例获取方法、装置、介质及电子设备

(57)摘要

CN119493723A本公开提供一种测试用例获取方法、装置、介质及电子设备，涉及测试技术领域，该方法包括：获取待测试源代码，待测试源代码为对原测试源代码进行修改后的源代码；提取待测试源代码中处于修改位置的函数对应的目标函数名称；基于预设映射关系，从数据库的多个测试用例中，获取目标函数名称对应的目标测试用例，其中，预设映射关系中包括多个函数名称和多个函数名称中每个函数名称对应的测试用例之间的对应关系，获得的目标测试用例用于对待测试源代码中的部分源代码进行测试，无需对整个待测试源代码进行测试，可以减小测试强度，缩短测

CN119493723A

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