JEDEC JESD22-A110E.01_2022 中文版 高加速温湿度应力试验（HAST）标准.docxVIP

JEDECJESD22-A110E.01:2022中文版高加速温湿度应力试验（HAST）标准

1总则

1.1编制目的与编制依据

本高加速温湿度应力试验简称HAST试验标准文件，严格依据JEDECJESD22-A110E.01:2022国际电子器件工程联合委员会2022年正式发布的高加速湿热可靠性专项试验最新权威规范编制，为全球各类半导体集成电路、分立功率器件、塑封微电子模组、贴片有源无源元器件、光电封装组件及电路板组装成品组件提供统一标准化的非冷凝式高温高压高加速湿热应力试验方法与唯一合规质量判定基准。本标准核心编制目的，是通过专用密闭高加速试验设备人工营造高温、高压、高湿度且全程无冷凝水凝结的严苛加速应力环境，在短周期内大幅提升水汽分子渗透速率与湿热老化加速倍率，快速激发常规温湿度循环试验、自然湿热老化试验、普通蒸煮试验难以快速暴露的封装界面微分层、塑封材料耐湿劣化、芯片钝化层防护失效、内部金属化电化学腐蚀、引脚镀层迁移漏电、封装微孔水汽渗透等隐性潜在可靠性缺陷，精准验证各类非气密封装电子元器件在严苛湿热工况下的封装结构完整性、材料长期耐湿稳定性及界面结合耐久性能，为元器件全生命周期服役质量筑牢可靠性前置筛选防线。

本HAST高加速温湿度应力试验标准，是电子元器件新品研发设计定型认证、封装胶体材料配方迭代变更验证、芯片封装制程工艺优化核验、外协封装供应链资质切换评估