1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内外标准规范

CN119511050A 一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法 （济南兰星电子有限公司）.docxVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.21万字
  • 约 25页
  • 2026-05-08 发布于山西
  • 举报

CN119511050A 一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法 （济南兰星电子有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119511050A

    (43)申请公布日2025.02.25

    (21)申请号202510080442.X

    (22)申请日2025.01.20

    (71)申请人济南兰星电子有限公司

    地址250200山东省济南市章丘区明水街

    道赭山工业园

    (72)发明人李浩魏兴政高飞刘谦

    (74)专利代理机构安徽知千里知识产权代理事务所(特殊普通合伙)34326

    专利代理师陈霖

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    G01R1/04(2006.01)

    权利要求书2页

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >