CN119517133A 存储芯片的时序参数确定方法及控制器、设备、介质 （深圳市晶存科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119517133A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202510082281.8

(22)申请日2025.01.20

(71)申请人深圳市晶存科技股份有限公司

地址518000广东省深圳市福田区福保街

道福保社区市花路创凌通科技大厦三

层

(72)发明人王军

(74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司44205

专利代理师林灿伟

(51)Int.Cl.

G11C29/08(2006.01)

G11C29/56(2006.01)

权利要求书2页说明书12页附图4页

(54)发明名称

存储芯片的时序参数确定方法及控制器、设

备、介质

(57)摘要

CN119517133A本申请公开了一种存储芯片的时序参数确定方法及控制器、设备、介质，涉及芯片测试技术领域。方法包括基于由初始发送延时与初始步进值确定的当前发送时延进行行列位置确定处理确定存储位置；根据基于存储位置和测试码型进行读写校验得到的校验结果，更新得到更新延时测试范围、更新步进值；更新延时测试范围包括第三端值和大于第三端值的第四端值；在当前步进值大于或等于预设步进阈值的情况下，基于由第三端值和更新步进值确定的且小于第四端值的更新发送时延进行行列位置确定处理、读写校验处理、更新处理；直至更