《半导体器件 机械和气候试验方法 第6部分:高温贮存》标准立项修订与发展报告.docx

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《半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温贮存》标准立项修订与发展报告

半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温贮存标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportonStandardforSemiconductorDevices-MechanicalandClimaticTestMethods-Part6:StorageatHighTemperature

摘要

本报告围绕国家标准计划《半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温贮存》(计划号:2025002498)的制定工作,系统阐述了该标准的立项背景、技术

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