1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内外标准规范

《GBT+43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》练习题试卷及参考答案.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约2.81千字
  • 约 12页
  • 2026-05-13 发布于浙江
  • 举报

《GBT+43088-2023 微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》练习题试卷及参考答案.pdf

    《GBT+43088-2023微束分析分析电子显微术金属

    薄晶体试样中位错密度的测定方法》练习题试卷

    总分：80分

    考试时间：90分钟

    一、单选题（每题2分，共15题，30分）

    1.GB/T43088-2023标准中，位错密度的测定方法是通过测量什么并结合膜厚

    计算得到的？

    A.位错线投影长度

    B.位错线实际长度

    C.位错线截点数

    D.位错线弯曲角度

    2.该标准适用于晶粒内不高于多少的位错密度测定？

    A.1×10¹⁴m⁻²

    B.1×10¹⁵m⁻²

    C.1×10¹⁶m⁻²

    D.1×10¹⁷m⁻²

    3.标准中

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >