《GBT+42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法》练习题试卷及参考答案.pdfVIP

《GBT+42838-2023半导体集成电路霍尔电路测试

方法》练习题试卷

一、单选题（每题2分，共30分）

1.标准GB/T42838-2023的名称是（）

A.半导体集成电路霍尔电路通用规范

B.半导体集成电路霍尔电路测试方法

C.半导体集成电路霍尔元件测试方法

D.半导体集成电路磁敏电路测试方法

2.根据标准，工作点磁感应强度是指（）

A.输出从高电平转为低电平时对应的磁感应强度

B.输出从低电平转为高电平时对应的磁感应强度

C.使霍尔电路处于导通状态的最小磁感应强度

D.使霍尔电路处于关断状态的最小磁感应强度

3.释放点磁感应强度的定义是（）

A.输出从高电平转为低电平时对应的磁感应强度

B.输出从低电平转为高电平时对应的磁感应强度

C.使霍尔电路进入锁定状态时的磁感应强度

D.使霍尔电路脱离锁定状态时的磁感应强度

4.回差的定义是（）

A.工作点磁感应强度与释放点磁感应强度的绝对值之差

B.工作点磁感应强度与释放点磁感应强度之和

C.释放点磁感应强度与工作点磁感应强度的比值

D.输出高电平时对应的磁感应强度范围

5.霍尔电路的静态参数测试中，电源电流应在什么条件下测量？（）

A.无磁场情况下

B