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自动化仪襄)第22卷第8期2001年8月

低温试验过程控制系统实时控制的抗干扰

TheAnti—interferenceonReaITimeControIofLow

TemperatureProcessControlSystem

系劬德(上海工业自动化仪表研究所，上海20o233)

内形成闭环回路后，失去了它应起的保护作用，使外部

1问题提出

干扰在屏蔽层中产生电流，引起电磁干扰，对测量信号

在环境室的调试过程中，发现其自动控制系统中产生干扰。另外，屏蔽层两点接地．部分电流流过屏蔽

存在干扰信号。其现象主要表现为智能控制仪表问有层产生电压降，也可以形成干扰。解决办法是，将现场

信号相互叠加现象，使测量值不准确，直接影响整个系一端的屏蔽接线相互间完全隔离．并使其全部浮空．仅

统的控制精度，造成系统的超差。其次