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《钼化学分析方法第26部分：痕量元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法》标准立项修订与发展报告T-610钼化学分析方法第26部分：痕量元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法标准发展报告

EnglishTitle:DevelopmentReportonStandardforChemicalAnalysisMethodsofMolybdenum-Part26:DeterminationofTraceElementContent-InductivelyCoupledPlasmaMassSpectrometry(StandardNo.T-610)

摘要

本报告旨在全面阐述国家标准计划《钼化学分析方法第26部分：痕量元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法》（计划号T-610）的制定背景、技术内容、行业意义及发展前景。随着我国航空航天、国防军工、新能源及电子信息等战略性新兴产业的快速发展，对高纯钼及钼基材料的性能要求日益严苛，其中痕量元素的种类与含量直接决定了材料的微观结构与宏观性能。然而，传统的化学分析方法在灵敏度、检出限及多元素同时测定能力方面存在局限，难以满足当前高纯材料分析的需求。电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）以其卓越的痕量、超痕量分析能力，已成为国际