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CN119556092B 绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质 （北京芯可鉴科技有限公司）.docxVIP

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  • 2026-05-14 发布于山西
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CN119556092B 绝缘介质层经时击穿寿命预测方法、装置、设备及介质 （北京芯可鉴科技有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN119556092B

    (45)授权公告日2025.06.27

    (21)申请号202510121401.0

    (22)申请日2025.01.26

    (65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119556092A

    (43)申请公布日2025.03.04

    (73)专利权人北京芯可鉴科技有限公司

    地址102299北京市昌平区双营西路79号

    院中科云谷园11号楼一层

    (72)发明人鹿祥宾王文赫董广智王立城单书珊张肖刘波刘佳艺

    (74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所

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