CN119574983A 电容检测方法、系统、设备及存储介质 (无锡众盛禾半导体设备有限公司).docxVIP

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  • 2026-05-16 发布于山西
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CN119574983A 电容检测方法、系统、设备及存储介质 (无锡众盛禾半导体设备有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119574983A

(43)申请公布日2025.03.07

(21)申请号202411809337.7

(22)申请日2024.12.10

(71)申请人无锡众盛禾半导体设备有限公司

地址214000江苏省无锡市锡山区安镇街

道先锋中路6号中国电子(无锡)数字

芯城3A#-A-6

(72)发明人王迪

(74)专利代理机构北京维正专利代理有限公司11508

专利代理师万培

(51)Int.Cl.

G01R27/26(2006.01)

权利要求书2页说明书17页附图3页

(54)发明名称

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