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CN119805153A 一种半导体测试方法及装置 （广东芯华镁半导体技术有限公司）.pdfVIP

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  • 2026-05-18 发布于重庆
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CN119805153A 一种半导体测试方法及装置 （广东芯华镁半导体技术有限公司）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119805153A

    (43)申请公布日2025.04.11

    (21)申请号202510286459.0G06F18/15(2023.01)

    G06F18/2131(2023.01)

    (22)申请日2025.03.12

    G06F18/22(2023.01)

    (71)申请人广东芯华镁半导体技术有限公司G06F18/26(2023.01)

    地址516000广东省惠州市惠阳三和开发

    区天星二路侧上围小组

    (72)发明人齐鹏

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