CN119596120A 一种用于pcba电路板的测试数据评估分析方法 （深圳市建滔科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119596120A

(43)申请公布日2025.03.11

(21)申请号202510143938.7

(22)申请日2025.02.10

(71)申请人深圳市建滔科技有限公司

地址518000广东省深圳市龙岗区坪地街

道紫荆路10号

(72)发明人涂春光涂曙光王佰亮方辉

(74)专利代理机构北京众合诚成知识产权代理

有限公司11246

专利代理师李纳

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G06F16/25(2019.01)

权利要求书3页说明书9页附图3页

(54)发明名称

一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析

方法

(57)摘要

CN119596120A本发明公开了一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法，涉及电路板测试技术领域，包括：获取分析元件库中；使用多功能分析方法获取多极端测试区间；获取待评估项目；基于待评估项目对电路板中的功能进行分析，并基于分析结果对测试数据进行评估；本发明用于解决现有的用于电路板的测试数据评估分析中，当电路板中因电子元件的影响导致测试结果存在异常时，无法基于测试数据的分析结果获取造成异常测试结果的电子元件，进而造成无法基于测试结果对电路板的电子元件进行及时修正，影响受损

CN1