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基于相关双采样探测的激光投影测控系统研究.pdf

基于相关双采样探测的激光投影测控系统研究.pdf

    摘要

    激光扫描投影系统在先进制造与装配过程中具有广泛应用，能够根据工件或零部

    件的数字模型，将轮廓或定位点准确地投影到目标表面。激光扫描投影仪器能够形成

    稳定、清晰的激光图样，指引操作人员进行定位和装配工作，从而提高装配精度和工

    作效率。为保证图形投影的准确度，需要通过合作靶标确定仪器坐标系与被投影物体

    坐标系的转换关系，那么对合作靶标的准确测量即是扫描投影仪器的关键技术，但该

    过程存在易受环境光干扰、靶标扫描时间较长等问题，限制了激光扫描投影系统的稳

    定性和实用性。

    为了解决现有标定

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