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纳米技术半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法

1范围

本标准规定了半导体纳米粉体材料的紫外-可见漫反射光谱测试方法。

本标准适用于不透光半导体纳米粉体材料漫反射光谱的测试。

2规范性引用文件

下列文件的条款通过本文件的引用而成为本文件的条款。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

JJG178紫外、可见、近红外分光光度计检定规程

JJF1232反射率测定仪校准规范

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

半导体semiconductor

导电性能介于导体与绝缘体之间，室温下电阻率约为10-5Ω·cm~1012Ω·cm，由带正电的空穴和带负电的电子两种载流子参加导电，并具有负的电阻温度系数以及光电导效应、整流效应的固体物质。

[GB/T14264-2024，定义3.1]

3.2

纳米粉体nanopowder

离散纳米颗粒的集合体。

3.3

漫反射diffusereflection

在宏观尺度上不存在规则反射时，由反射造成的弥散过程。

[JJF1032-2005，定义4.5]3.4

反射率reflectivity

材料层的厚度达到其反射比不再随厚度的增加而变化时的反射比，无量纲。

[JJF1032-20