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基于XRD的纳米材料晶格应变分析技术考核试卷

1.XRD用于纳米材料晶格应变分析的主要依据是？

A.衍射峰的位置

B.衍射峰的强度

C.衍射峰的宽度

D.衍射峰的形变

2.晶格应变的单位通常是？

A.纳米

B.皮米

C.百分比

D.弧度

3.衍射峰宽化法计算晶格应变的公式中，与应变成正比的是？

A.峰高

B.峰面积

C.半高宽

D.峰位

4.在XRD分析中，哪种方法可以更准确地测量纳米材料的晶格应变？

A.高分辨XRD

B.常规XRD

C.扫描电子显微镜

D.透射电子显微镜

5.晶格应变的测量通常需要对样品进行？

A.高温处理

B.低温处理

C.机械加工

D.化学处理

6.衍射峰宽化法中，峰形