抗闩锁效应微处理器复位电路设计研究.pdfVIP

·142·《测控技术)2015年第34卷第12期

抗闩锁效应微处理器复位电路设计研究

侯立功，陈天娥

(无锡职业技术学院江苏省传感网工程技术研究开发中心，江苏无锡214121)

摘要：主要探究解决控制系统在频繁通断电情况下容易死机的问题。通过对传统微处理器复位电路的

理论分析和工作波形仿真，发现在电源掉电时，微处理器在其复位引脚受到外部复位电容的放电冲击

时，容易进入闩锁状态。由此提出上电复位电路也是容易导致CMOS电路进入闩锁的外部触发条件之

一，并在此基础上设计了一种新型抗闩锁复位电路，能够自动检测电源掉电，导通泄流回路，使复位电容

避开复位引脚放电。仿真分析和样机测试验证了其抗闩锁功能的有效性。

关键词：CMOS；闩锁效应；微处理器；电路应用级；复位；泄流

中图分类号：TN79．1文献标识码：A文章编号：1000—8829(2015)12—0142—04

DesignoftheMCUResetCir