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基于倒谱分析的RFID标签设备指纹认证方法·17·

基于倒谱分析的RFID标签设备指纹认证方法

严燕，江立伟

(1．南通大学计算机科学与技术学院，江苏南通226019；2．南通大学电子信息学院，江苏南通226019)

摘要：近耦合RFID系统得到了广泛应用，其安全问题也得到了越来越多的重视。提出了近耦合RFID

标签的一种基于物理特征的倒谱设备指纹认证方法。建模理论分析与基于ISO14443A标签的实验结

果表明：新的倒谱设备指纹消除了标签的数字信息影响，主要由标签硬件的物理性质决定。所提出方法

可用于近耦合RFID标签的物理层身份识别与验证。

关键词：身份认证；设备指纹；倒谱分析

中图分类号：TN91B．91文献标识码：A文章编号：1000一B829(2o13)12—0017—03

DeviceFingerprintAuthenticationofRFIDTagsBasedonCepstrumAnalysis