CN119643609A 一种晶相杂质的分析方法 （北京华睿鼎信科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119643609A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510168497.6

(22)申请日2025.02.17

(71)申请人北京华睿鼎信科技有限公司

地址100176北京市大兴区北京经济技术

开发区经海四路2号2幢3单元301、

302、303、305、306号

(72)发明人东广振田洪王皖邵琪袁灿况斌

(74)专利代理机构北京高沃律师事务所11569

专利代理师王小玲

(51)Int.Cl.

G01N23/2055(2018.01)

G01N23/207(2018.01)

权利要求书1页说明书12页附图9页

(54)发明名称

一种晶相杂质的分析方法

(57)摘要

CN119643609A本发明提供了一种晶相杂质的分析方法，属于分析化学技术领域。本发明获取待测环硅酸锆钠样品的X一射线衍射图谱；根据晶相杂质的标准曲线或标准方程与所述待测环硅酸锆钠样品的X一射线衍射图谱，得到待测环硅酸锆钠样品中晶相杂质的含量；所述标准曲线根据标准曲线样品中晶相杂质和环硅酸锆钠质量的比值，以及标准曲线样品的X一射线衍射图谱中晶相杂质和环硅酸锆钠特征衍射峰衍射强度的比值拟合得到；所述标准方程为所述标准曲线对应的线性方程；所述标准曲线