CN119643688A 一种磁学层析检测装置及方法 （河北工业大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119643688A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202411798642.0

(22)申请日2024.12.09

(71)申请人河北工业大学

地址300400天津市北辰区双口镇西平道

5340号

(72)发明人钟乾朔

(74)专利代理机构北京华旭智信知识产权代理事务所(普通合伙)11583

专利代理师琼伟格

(51)Int.Cl.

G01N27/83(2006.01)

B65G15/20(2006.01)

B07C5/36(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图6页

(54)发明名称

一种磁学层析检测装置及方法

(57)摘要

CN119643688A本发明涉及磁学层析检测技术领域，提出了一种磁学层析检测装置及方法，包括主支架，主支架的表面转动连接有转辊，主支架的表面固定连接有检测组件，转辊的表面绕设有输送带，转辊的表面连接有调节结构，主支架的表面连接有顶起结构；调节结构包括固定连接于主支架外表面的固定支架，固定支架的表面固定连接有固定架，固定架的表面固定连接有调节电缸，调节电缸的输出端固定连接有限位圈，限位圈的表面固定连接有支撑杆。通过上述技术方案，解决了现有磁学层析检测装置及方法在自动输送的过程中，为了保持检测的精准性，通常