光电子技术与产品开发手册.docxVIP

  • 1
  • 0
  • 约2.31万字
  • 约 34页
  • 2026-06-05 发布于江西
  • 举报

光电子技术与产品开发手册

第1章光电子技术与产品开发手册

1.1半导体物理与能带结构

能带理论是理解半导体光电特性的基石,将原子轨道相互作用抽象为连续的能量状态。在绝对零度下,价带(ValenceBand)被电子填满,导带(ConductionBand)为空,中间存在禁带(BandGap,$E_g$),其宽度直接决定了材料的导电类型(n型或p型)和光电响应特性。电子在价带顶附近的态密度(DensityofStates,DOS)随能量增加呈抛物线分布,而空穴在费米能级附近的态密度则呈现指数衰减形式,这种非对称分布导致了光吸收过程中的跃迁概率差异。

禁带宽度$E_g$决定了材料的本征吸收边,例如硅(Si)的$E_g\approx1.12$eV,对应吸收截止波长约为1100nm,而砷化镓(GaAs)的$E_g\approx1.42$eV,对应截止波长约为870nm,这直接影响了器件对红外光段的探测能力。掺杂过程通过引入施主或受主杂质,将能级引入禁带,形成准导带或准价带。n型硅的导带底位于禁带中心上方约0.05eV处,而p型硅的价带顶位于禁带中心下方约0.05eV处,这种能级位置决定了载流子的热平衡浓度。本征载流子浓度$n_i$随温度呈指数规律变化,遵循公式$n_i^2=N_cN_v\exp\

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档