CN202411757986.7-芯片测试设备-发明公开.pdfVIP

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  • 2026-06-05 发布于重庆
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CN202411757986.7-芯片测试设备-发明公开.pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN122131116A

(43)申请公布日2026.06.02

(21)申请号202411757986.7B07C5/36(2006.01)

(22)申请日2024.12.02

(71)申请人昆山思特威集成电路有限公司

地址215000江苏省苏州市昆山市锦溪镇

锦顺路188号

(72)发明人杨建设张雅凯彭磊崔旭

(74)专利代理机构深圳中一联合知识产权代理

有限公司44414

专利代理师刘艳

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R1/02(2006.01)

G01R1/04(2006

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