原创力文档芯片测试结构设计案例
目录
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18481.1使用扫描链对组合逻辑的测试 1
175151.2芯片介绍 4
115791.3测试结构设计 6
53741.3.1测试引脚使用的规划 6
114731.3.2串并转换器设计 9
58791.3.3OCC电路 10
99431.3.4时钟结构设计 12
88791.3.5基于IEEE1500协议的测试结构 13
106081.4测试压缩结构和测试压缩率的选取 16
287351.5测试结构的定制与实现 22
在芯片测试阶段，首先要对芯片进行可测试性设计的统一
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