IEC 626152010 静电放电敏感性测试——传输线脉冲（TLP）元件级标准+源标准.pdf

⚡IEC62615:2010—静电放电敏感性测试传输线脉

冲（TLP）元件级

IEC62615是国际电工委员会于2010年5月发布的关于采用传输线脉冲（TransmissionLine

Pulse,TLP）技术进行静电放电（ESD）敏感性测试的国际标准。该标准由IEC第47技术委员会（半

导体器件）制定，基于ANSI/ESDSTM5.5.1-2008标准，为半导体行业的TLP测试建立了统一的测试

方法和报告规范。

TLP测试技术通过向被测器件注入一系列幅度递增的短脉冲（通常脉宽100ns，上升沿2–10ns），

测量器件在每个脉冲下的电压-电流响应，