单细胞成像观测研究简介.pdf

单细胞成像观测研究简介*

袁倬斌

(中国科学院研究生院化学与化学工程学院,

中国科学院研究生院应用化学研究所,北京100049)

性能观察导体和半导体的表面结构原子微观世界的三维图能测隧道电流的分辨率横向纵向不能直接观察和研究有较厚氧化层存在的样品表面不能研究非导体和绝缘体表面非导电材料必须在表面覆盖一层导电膜导电膜的存在掩盖了表面结构的细节使失去了在原子尺度上研究表

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