CN119334880A 晶圆缺陷检测系统及方法 (上海优睿谱半导体设备有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-08 发布于重庆
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CN119334880A 晶圆缺陷检测系统及方法 (上海优睿谱半导体设备有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119334880A

(43)申请公布日2025.01.21

(21)申请号202411911455.9G01N21/63(2006.01)

G01N21/88(2006.01)

(22)申请日2024.12.24

G01N21/95(2006.01)

(71)申请人上海优睿谱半导体设备有限公司

地址201210上海市浦东新区盛夏路570号

1幢402室

(72)发明人丁健朱开毅余先育张兴华

唐德明

(74)专利代理机构上海智晟知识产权代理事务

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