CN119670905A 基于拓扑缺陷的量子反常霍尔绝缘体的陈数确定方法、系统、计算机设备、存储介质及程序产品 (苏州市职业大学).docxVIP

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  • 2026-06-08 发布于山西
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CN119670905A 基于拓扑缺陷的量子反常霍尔绝缘体的陈数确定方法、系统、计算机设备、存储介质及程序产品 (苏州市职业大学).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119670905A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202411661679.9

(22)申请日2024.11.20

(71)申请人苏州市职业大学

地址215104江苏省苏州市国际教育园致

能大道106号

(72)发明人常治文张冰刘鑫郝维昌

(74)专利代理机构苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257

专利代理师李志鹏

(51)Int.Cl.

G06N10/20(2022.01)

权利要求书3页说明书10页附图4页

(54)发明名称

基于拓扑缺陷的量子反常霍尔绝缘体的陈数确定方法、系统、计算机设备、存储介质及程序产品

(57)摘要

CN119670905A本发明提供一种基于拓扑缺陷的量子反常霍尔绝缘体的陈数确定方法、系统、计算机设备、存储介质及程序产品,方法包括确定两带模型每个拓扑缺陷的拓扑荷;确定对应的拓扑荷对陈数的贡献,以确定价带或导带的陈数;对哈密顿量做傅里叶变换,得到实空间中的紧束缚哈密顿量;对实空间中的紧束缚哈密顿量做一维傅里叶变换,得到一维有效哈密顿量;判断无能隙的边缘态的数量是否等于导带陈数的绝对值;如果等于,则将无能隙的边缘态的数量作为量子反常霍尔绝缘体的陈数;如果不等于,则重新构建两带模型的哈密顿

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